企业资讯 | 华兴源创精彩亮相2024 DIC EXPO

         7月3日至5日，为期3天的DIC EXPO 国际（上海）显示技术及应用创新展在上海新国际博览中心落下帷幕。作为新型显示行业极具影响力的盛会，汇聚了300余家国内外核心显示企业展示产业链最新技术解决方案。

         华兴源创携光、电、BMS测试设备以及半导体领域的多款产品和解决方案亮相展会，吸引了众多行业观众驻足交流。

精彩回顾

中国光学光电子行业协会液晶分会理事长陈炎顺先生，中国光学光电子行业协会液晶分会常务副理事长兼秘书长梁新清先生，中国科学院院士欧阳钟灿先生等一行嘉宾莅临华兴源创展台进行参观指导。

展区风采

光电展区

         光电展区，动态展示了点式色彩分析仪、多角度光谱仪、面阵式色度计三类华兴源创自主研发的颜色测量仪器，有十多种型号的产品可供选择。展台上的光学三合一测试平台，将这三类产品集于一体，可实现单点色度亮度检测、GAMMA调整、闪烁度检测、多视角色差检测、光谱测量、屏幕颜色均匀性，色差及black mura检测。此外，该展区还展出了ICM-31-G加VR镜头的测试方案，展现了公司在AR/VR整机光学参数检测能力。

光信号发生器（PG）展区

         该展区展出了CELL PG、模组PG器、信赖性PG三类产品。华兴源创图像信号发生器能够为各类型LCD/OLED 面板提供信号及电源驱动，调节输出各种Timing Sequence、ON/OFF时序等用于驱动各尺寸类型液晶模组，同时对频率、电压、电流参数、阶调值等进行调整和测试，应用于大中小各种尺寸规格的模组点灯测试，实现Gamma调节、Flicker调节、Demura等功能。

BMS测试设备展区

        BMS测试设备展区展出了3款产品：Cell Tester，Battery Tester，Cycler Tester，分别应用于电芯测试，电池管理芯片和PACK测试，循环寿命、脉冲、倍率充放电测试等。

半导体展区

         PXIe是一种基于PCIe总线设计的小型化测试系统，主要针对消费类电子芯片的测试，如射频前端芯片（开关、PA等），MEMS传感器，PMIC等，稳定性好、可扩展性强、灵活通用。经过8年的深耕，目前已拥有非常丰富的板卡，实现了电源、数字、模拟、射频等14款以上板卡的量产，可涵盖大多数消费类电子芯片的测试。

显示装备创新大奖银奖区

         在7月3日的DIC AWARD颁奖晚宴上，华兴源创凭借“触控集成电路断路短路和屏幕点亮检查复合设备”在DIC AWARD 2024国际显示技术创新大奖中再度荣获“显示装备创新大奖银奖”，这是华兴源创连续第二年摘得此殊荣，也是对华兴源创在显示装备领域持续创新能力的高度认可。